[30a-D3-1~13] 6.6 プローブ顕微鏡

[30a-D3-13] 非線形誘電率顕微鏡法によるNAND-Flashメモリ中の蓄積電子の観察 (12:15 PM ～ 12:30 AM)

^○本田耕一郎，長康雄 (東北大通研)

キーワード：走査型非線形誘電率顕微鏡、Flashメモリ、蓄積電荷