The 75th JSAP Autumn Meeting, 2014

Exhibitors' information

[Aa-5] Tec Corporation

Tec Corporation

■(1)SPECS Surface Nano Analysis社: 1)コンポーネント:PHOIBOS半球型エネルギーアナライザ, TOFスペクトロメータ, EELSスペクトロメータ, X線源(XR 50/XR 50 NAP), X線モノクロメータ, UV光源, UVモノクロメータ, 電子源, イオン源, EB蒸着源, プラズマ源, フラッドガン, LEED/AES, NAP-RHEED, Nanonis SPMコントロールシステム, Nanonis OC4オシレーションコントローラ, NAP-SPMヘッド、Kolibriセンサー 2)カスタマイズシステム: LEEM/PEEM, NAP-XPS, ARPES/XAFS, JT-STM
(2)Zurich Instruments社: UHFLI(600Hz)ロックインアンプ, HF2LI(50MHz)ロックインアンプ, HF2PLL(50MHz)フェーズロックループ, HF2IS(50MHz)インピーダンス分光器
(3)Ferrovac社: UHV精密ウォーブルスティック(グリップ回転型/グリップ移動型), UHVサンプル搬送ユニット, サンプルトランスポータ
(4)Sjuts社: チャンネルエレクトロンマルチプライヤー
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