2014年第75回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

06.薄膜・表面 » 6.5 表面物理・真空

[17p-A6-1~8] 6.5 表面物理・真空

2014年9月17日(水) 13:30 〜 15:45 A6 (E205)

15:00 〜 15:15

[17p-A6-6] In-situ電気化学プロセスによるイオン液体と水素終端Si(111)界面の評価

渡邉光,松本祐司,丸山伸伍 (東北大院工)

キーワード:イオン液体,水素終端Si,真空