[17p-S11-1~6] 8.2 プラズマ診断・計測

[17p-S11-6] 凹型引き出し電極を用いた低エネルギー高電流密度イオンビームの自発的集束への静電プローブ計測の影響

^○藤原大^1,2，平野洋一^2,3，木山學²，中宮明久^1,2，小口治久²，榊田創^1,2 (筑波大院システム情報¹，産総研エネルギー技術²，日大理工物理³)

キーワード：Ion beam,Electrostatic probe,Spontaneous focusing