[18a-A2-1~11] 12.2 評価・基礎物性

[18a-A2-6] その場すれすれ入射小角X線散乱測定によるペンタセン薄膜形成中の膜厚の検討

^○（PC）渡辺剛¹，小金澤智之¹，菊池護²，吉本則之²，広沢一郎¹ (高輝度光科学研究セ¹，岩手大工²)

キーワード：有機半導体,小角X線散乱,散漫散乱