[18a-A26-1~6] 16.1 基礎物性・評価

[18a-A26-2] TRAM(topological-switching RAM)デバイスの熱安定性評価

^○田井光春¹，大柳孝純¹，木下勝治¹，森川貴博¹，秋田憲一¹，高浦則克¹，加藤重徳²，白川裕規²，洗平昌晃³，白石賢二³ (LEAP¹，筑波大²，名大³)

キーワード：超格子,ストレージデバイス