[18a-B2-1~14] 2.3 放射線応用・発生装置・新技術

[18a-B2-3] PHITSと多重有感領域モデルを用いたソフトエラー発生率解析

^○安部晋一郎，佐藤達彦 (原子力機構)

キーワード：ソフトエラー,半導体,中性子