PDF ダウンロード スケジュール 10 いいね! 0 10:30 〜 10:45 [19a-A16-5] Si基板上に直接成長させたGeのTOF-SIMS測定(II) ○河野健一郎1,朴成鳳2,石川靖彦2,和田一実2 (物材機構量子ビームU1,東大マテリアル工学2) キーワード:Si,Ge