PDF ダウンロード スケジュール 6 いいね! 0 10:15 〜 10:30 [19a-A25-6] a-SiOx:H薄膜の欠陥評価 ○松井研人1,伊藤貴司1,片山竜一1,山川幸輝1,斉藤潤2,杉山秀一郎2,Porponth Sichanugrist3,野々村修一1,小長井誠3 (岐阜大工1,シャープ2,東工大院理工3) キーワード:欠陥評価