[19p-A8-1~19] 6.6 プローブ顕微鏡

[19p-A8-11] フラーレン薄膜上金属内包フラーレンのFM-KFM表面電位測定

^○野田晃浩¹，小林圭^1,2，山田啓文¹ (京大院工¹，京大白眉セ²)

キーワード：ケルビンプローブ顕微鏡,原子間力顕微鏡