16:00 〜 18:00
△ [19p-PB7-2] パワーデバイス用結晶の評価（Ⅶ） ＧａＮ結晶のＸ線トポグラフィによる評価
キーワード：GaN,Ｘ線トポグラフィ,評価
講演情報
一般セッション(ポスター講演)
15．結晶工学 » 15.8 結晶評価，不純物・結晶欠陥
[19p-PB7-1~6] 15.8 結晶評価，不純物・結晶欠陥
2014年9月19日(金) 16:00 〜 18:00 PB7 (第2体育館)
ポスター掲示時間16:00～18:00(PB7会場)
一般セッション(ポスター講演)
15．結晶工学 » 15.8 結晶評価，不純物・結晶欠陥
2014年9月19日(金) 16:00 〜 18:00 PB7 (第2体育館)
ポスター掲示時間16:00～18:00(PB7会場)
16:00 〜 18:00
キーワード：GaN,Ｘ線トポグラフィ,評価