[20a-C6-1~11] 3.9 テラヘルツ全般

[20a-C6-11] 二重変調方式反射型THzエリプソメータの製作と金属表面上の塗装膜厚の測定

^○上村裕明¹，水谷康弘¹，安井武史^1,2，岩田哲郎¹ (徳大院¹，阪大院²)

キーワード：THzエリプソメトリ,偏光計測,変調