[13p-PA6-1~17] 13.9 光物性・発光デバイス

[13p-PA6-15] Z-scan法によるInP厚膜の非線形屈折率の測定

〇(M1)池田 優輝¹、坂東 弘之¹、原 皓¹、大石 真樹¹、松末 俊夫¹ (1.千葉大院・融合)

キーワード：非線形屈折率、Z-scan