2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[14a-4E-1~7] 7.4 量子ビーム界面構造計測

2015年9月14日(月) 09:30 〜 11:15 4E (437)

座長:竹田 美和(あいち放射光)

09:45 〜 10:00

[14a-4E-2] 金-クロム積層膜/希硫酸水溶液界面の電気二重層の中性子反射率測定

〇水沢 まり1、桜井 健次2、山﨑 大3、武田 全康3 (1.CROSS東海、2.物材機構、3.JAEA/J-PARC)

キーワード:固液界面、中性子、反射率法

電極と電解質の界面に存在する電気二重層の構造には電極の表面モフォロジーが影響を与える。本研究では、金-クロム積層薄膜と希硫酸との界面の中性子射率測定を行い、回路開放状態を模した条件での構造評価を行った。溶液と接触させた時に一部のq領域(0.5~1.5nm-1付近)でやや強い散乱が観察された。