[14a-4E-1~7] 7.4 量子ビーム界面構造計測

[14a-4E-4] X線誘起の試料表面近傍力場変化のXANAMによる成分分析

〇鈴木 秀士¹、向井 慎吾²、田 旺帝³、野村 昌治⁴、朝倉 清高² (1.名大院工、2.北大触媒セ、3.ICU、4.KEK-PF)

キーワード：X線、原子間力顕微鏡、力場

ナノスケール表面／界面の元素分析のために、放射光X線と非接触原子間力顕微鏡を組み合わせたXANAMを開発している。X線誘起される力変化の由来を特定する力成分分析から、X線エネルギーに依存して変化する静電的力、van der Waals力、共有結合力の分離を行った。ここではX線誘起で空間的に偏在する電荷効果を加味して検討した。共有結合力の分離に加え、表面近傍のX線誘起現象の詳細について報告したい。