[14p-4D-1~13] 11.3 Critical Current, Superconducting Power Applications

[14p-4D-8] Investigation on Current Limiting Mechanism of REBCO Tape by Magnetic Microscopy and X-ray CT (2)

〇Masayoshi Inoue¹, Ken Takasaki¹, Kazutaka Imamura¹, Kohei Higashikawa¹, Teruo Izumi², Takanobu Kiss¹ (1.Kyushu Univ., 2.ISTEC)

Keywords:high temperature superconductor,X-ray micro-CT,critical current

本研究では、X線マイクロCTにより得られた欠陥の空間分布に関する統計的解析を行い、有効断面積の統計分布を明らかとし、通電特性に及ぼす影響について考察を行った。その結果、統計分布解析により得られたE-J特性が、低J_c領域での通電測定により得られたE-J特性を良く再現することが確認できた。これは、通電法により得られた低J_c特性が超伝導領域の有効断面積を低下させる基板からの欠陥に起因することを支持するものである。