2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[14p-4E-1~21] 7.6 イオンビーム一般

2015年9月14日(月) 12:30 〜 18:15 4E (437)

座長:阿保 智(阪大),瀬木 利夫(京大),柳沢 淳一(滋賀県立大)

15:30 〜 15:45

[14p-4E-12] 大気取り出し陽子マイクロビームプローブによる有機物試料からのイオン誘起発光分光スペクトルの連続測定

〇加田 渉1、佐藤 隆博2、川端 駿介1,2、江夏 昌志2、山田 尚人2、横山 彰人1,2、神谷 富裕2、三浦 健太1、花泉 修1 (1.群馬大、2.原子力機構)

キーワード:イオン誘起発光、大気取り出し集束イオンビーム、顕微分光

大気取出しイオンマイクロビームを利用した荷電粒子誘起蛍光X線 (PIXE; Particle-Induced X-ray Emission) 分析法は、大気中に試料を設置したまま高感度に組成分布を取得できる分析法として生物試料を含めた多様な分析対象への応用が進められている。有機化合物のような照射対象では、荷電粒子照射による影響が無視できないはずであるが、どのような化学組成情報の変化があるかについては、特性X線での取得は困難である。本研究では、このような変化を可視化するために、PIXE分析と併用可能な分析・イメージング技術として、大気取出しイオンマイクロビームをプローブとしたイオン誘起発光(Ion Luminescence, IL) を分光分析する手法の開発を行った。これを有機物分析に応用することで、発光波長やスペクトル構造、強度減衰が有機物により差異が生じることを見出した。