2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

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[14p-4E-1~21] 7.6 イオンビーム一般

2015年9月14日(月) 12:30 〜 18:15 4E (437)

座長:阿保 智(阪大),瀬木 利夫(京大),柳沢 淳一(滋賀県立大)

17:00 〜 17:15

[14p-4E-17] TOF-MSに荷電変換・エネルギー分析系を併用した多価イオンの検出

〇辻 博司1、津留 雄1、後藤 康仁1 (1.京大院工)

キーワード:イオン分析、同一質量電化比、多価イオン

イオンの質量分析では、一般に磁界や飛行時間により質量電荷比を求めている。この為、m/zが同じ場合、軽い元素の一価イオンと重い元素や分子の多価イオンとが混同され、詳細な分析には大型の加速器などが必要となる。より簡単な方法として、今回、TOF-MSに荷電変換セルと簡素な静電エネルギー分析器を併用して多価イオンの検出を試みた。実験ではXeイオンのm/z=66には2価のXe2+イオンの存在を検出した。