17:15 〜 17:30
[14p-4E-18] 低真空クラスターSIMS分析に向けた基礎研究
キーワード：二次イオン質量分析、ガスクラスターイオンビーム
講演情報
一般セッション(口頭講演)
7 ビーム応用 » 7.6 イオンビーム一般
[14p-4E-1~21] 7.6 イオンビーム一般
2015年9月14日(月) 12:30 〜 18:15 4E (437)
座長:阿保 智(阪大),瀬木 利夫(京大),柳沢 淳一(滋賀県立大)
一般セッション(口頭講演)
7 ビーム応用 » 7.6 イオンビーム一般
2015年9月14日(月) 12:30 〜 18:15 4E (437)
座長:阿保 智(阪大),瀬木 利夫(京大),柳沢 淳一(滋賀県立大)
17:15 〜 17:30
キーワード：二次イオン質量分析、ガスクラスターイオンビーム