[14p-PB5-1~15] 12.2 評価・基礎物性

[14p-PB5-9] ペンタセン/フッ素化ペンタセン共蒸着膜 sigma相の分子配列の
微小角入射X線回折による検討

〇広沢 一郎¹、渡辺 剛¹、小金澤 智之¹、多田 圭佑²、吉本 則之² (1.高輝度光科学研究セ、2.岩手大工)

キーワード：有機半導体、結晶構造

SiO₂膜上に形成したPEN/PFP共蒸着薄膜のシグマ相と呼ばれる結晶の構造を微小角入射X線回折により検討した。一方の分子の重心を(0 0 0)、もう一方の分子の重心を(1/2 1/2 0）に置き、それぞれの分子の長軸がc*軸に対する極角を8.5°、13.0°、ab面への投影のa軸に対する方位角を160．5°、51°とした場合、計算された回折強度が測定強度によく一致することがわかった。更に、PENとPFPが規則的に配置した結晶相とランダムに並んだ結晶相が50%ずつ存在することを示唆する結果となった。