[15a-2H-1~10] 6.3 酸化物エレクトロニクス

[15a-2H-5] 温度特性評価によるReRAMフィラメントの形状評価

〇(D)森山 拓洋^1,2、岸田 悟^1,2、木下 健太郎^1,2 (1.鳥取大工、2.TiFREC)

キーワード：抵抗変化メモリ、NiO、温度特性