The 76th JSAP Autumn Meeting, 2015

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.8 Compound and power electron devices and process technology

[15a-4C-1~13] 13.8 Compound and power electron devices and process technology

Tue. Sep 15, 2015 9:00 AM - 12:30 PM 4C (432)

座長:牧山 剛三(富士通研)

10:45 AM - 11:00 AM

[15a-4C-7] Analyses of photoanodized GaN surface in back-side illumination mode

〇Masaaki Edamoto1, Yusuke Kumazaki1, Zenji Yatabe1, Taketomo Sato1 (1.RCIQE,Hokkaido Univ.)

Keywords:GaN,photo-electrochemical reaction,anodic oxidation

GaN表面のウェット酸化プロセスは、一般にバンドギャップ以上のエネルギーを持つ光(hn > Eg)を反応面である試料表面へ照射して行われる。本研究では、酸化過程の詳細を明らかにするため、試料裏面より光を照射しながら陽極酸化を行い、表面分析を行った。