The 76th JSAP Autumn Meeting, 2015

Presentation information

Oral presentation

13 Semiconductors » 13.8 Compound and power electron devices and process technology

[15a-4C-1~13] 13.8 Compound and power electron devices and process technology

Tue. Sep 15, 2015 9:00 AM - 12:30 PM 4C (432)

座長:牧山 剛三(富士通研)

11:15 AM - 11:30 AM

[15a-4C-9] Microscopic evaluation of Mg-ion-implanted GaN layers

〇YUSUKE SAIJO1, HIROHUMI TSUGE1, SHUGEKI KATO1, NISHIMURA TOMOAKI1, TOMOYOSHI MISHIMA1, TOHRU NAKAMURA1 (1.Hosei Univ.)

Keywords:GaN

我々はこれまで、高品質なGaN自立基板上のn-GaNエピタキシャル層へMgイオン注入を行い、低温PL、整流性、電流注入によるUV-青色発光や正のホール係数等の観測からp型層の形成を報告した。今回、I-V特性や顕微PLマッピングにより詳細に評価したので報告する。