2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[15a-4C-1~13] 13.8 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2015年9月15日(火) 09:00 〜 12:30 4C (432)

座長:牧山 剛三(富士通研)

11:15 〜 11:30

[15a-4C-9] Mgイオン注入GaN層の微視的評価

〇西城 祐亮1、柘植 博史1、加藤 茂樹1、西村 智明1、三島 友義1、中村 徹1 (1.法政大)

キーワード:窒化ガリウム

我々はこれまで、高品質なGaN自立基板上のn-GaNエピタキシャル層へMgイオン注入を行い、低温PL、整流性、電流注入によるUV-青色発光や正のホール係数等の観測からp型層の形成を報告した。今回、I-V特性や顕微PLマッピングにより詳細に評価したので報告する。