11:15 〜 11:30
[15a-4C-9] Mgイオン注入GaN層の微視的評価
キーワード:窒化ガリウム
我々はこれまで、高品質なGaN自立基板上のn-GaNエピタキシャル層へMgイオン注入を行い、低温PL、整流性、電流注入によるUV-青色発光や正のホール係数等の観測からp型層の形成を報告した。今回、I-V特性や顕微PLマッピングにより詳細に評価したので報告する。
一般セッション(口頭講演)
13 半導体 » 13.8 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術
2015年9月15日(火) 09:00 〜 12:30 4C (432)
座長:牧山 剛三(富士通研)
11:15 〜 11:30
キーワード:窒化ガリウム