[15p-2N-1~17] 12.2 Characterization and Materials Physics

[15p-2N-13] Observation of electric state of organic thin film under transistor operation by bias applied - hard X-ray photoemission spectroscopy

〇TAKESHI WATANABE¹, Keisuke Tada², Satoshi Yasuno¹, Noriyuki Yoshimoto², Ichiro Hirosawa¹ (1.JASRI, 2.Iwate Univ.)

Keywords:organic semiconductor,Hard X-ray photoemission spectroscopy

硬X線光電子分光法を用いて有機トランジスタ駆動中における有機半導体薄膜内の電位分布を観察した。この結果、ゲート電圧の印加によってPEN薄膜内に電荷が注入・蓄積されたことで電位分布が変化したことを反映してC1sスペクトルの線幅が増大していた。