[15p-2W-1~23] 2.2 Detection systems

△ [15p-2W-4] Carrier transportation analysis by simultaneous measurement of pulse height and rise up time in semiconductor radiation detector

〇HISAYA NAKAGAWA¹, Tsuyoshi Terao², Tomoaki Masuzawa^1,3, Tetsu Ito³, Hisashi Morii⁴, Akifumi Koike⁴, Toru Aoki^1,2,3,4 (1.Inf, Shizuoka Univ., 2.Gsst, Shizuoka Univ., 3.RIE, Shizuoka Univ., 4.ANSeeN)

Keywords:semiconductor radiation detector,carrier transportation,polarization

放射線半導体検出器では放射線と半導体の相互作用に加えて検出器内部でのキャリアの動きが重要となる．現在，応用が進んでいるCdTe検出器では，長時間の利用でポラリゼーション現象が発生する．ポラリゼーション現象は内部電界の変化が原因といわれているが，その詳細は未だ議論されている．そこで，半導体検出器のキャリア輸送特性に注目し，パルスの波高値とパルスの立ち上がり時間を同時に計測することでポラリゼーションによるキャリア輸送特性への影響を調べた．