[15p-2W-1~23] 2.2 検出器開発

△ [15p-2W-4] パルス波高値と立ち上がり時間同時計測による半導体放射線検出器のキャリア輸送特性の解析

〇中川 央也¹、寺尾 剛²、増澤 智昭^1,3、伊藤 哲³、森井 久史⁴、小池 昭史⁴、青木 徹^1,2,3,4 (1.静岡大院情報、2.静岡大院創造、3.静岡大電研、4.ANSeeN)

キーワード：半導体放射線検出器、キャリア輸送特性、ポラリゼーション

放射線半導体検出器では放射線と半導体の相互作用に加えて検出器内部でのキャリアの動きが重要となる．現在，応用が進んでいるCdTe検出器では，長時間の利用でポラリゼーション現象が発生する．ポラリゼーション現象は内部電界の変化が原因といわれているが，その詳細は未だ議論されている．そこで，半導体検出器のキャリア輸送特性に注目し，パルスの波高値とパルスの立ち上がり時間を同時に計測することでポラリゼーションによるキャリア輸送特性への影響を調べた．