2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[15p-4F-1~25] 6.2 カーボン系薄膜

2015年9月15日(火) 13:15 〜 20:00 4F (438)

座長:小山 和博(デンソー),齊藤 丈靖(大阪府立大),嘉数 誠(佐賀大)

16:15 〜 16:30

[15p-4F-12] ボロンドープダイヤモンド超伝導量子干渉計の作製に向けたジョセフソン接合の特性評価

〇日出幸 昌邦1、蔭浦 泰資1、柴田 将暢1、北林 祐哉1、山口 尚秀2、高野 義彦2、川原田 洋1 (1.早大理工、2.物材機構)

キーワード:ダイヤモンド、超伝導、超伝導量子干渉計

我々は、ボロン濃度[B]=1×1022cm-3で超伝導転移温度Tc(offset)=10Kを示す超伝導ボロンドープダイヤモンドの合成を達成し、これまでに不可能であった超伝導デバイスに関する多くの測定が可能となった。超伝導量子干渉計(Superconducting Quantum Interference Device :SQUID)は微小磁場を高感度に計測可能な超伝導デバイスであるが、SQUID特性を評価する上で重要なジョセフソン接合に関する報告は少ない。そこで本研究では、SNS(超伝導-常伝導-超伝導)構造ジョセフソン接合の形成及び特性評価を行う。