[15p-PB2-1~53] 8 プラズマエレクトロニクス（ポスター）

[15p-PB2-2] 溶射プロセスにおける粒子パラメータ計測法の開発

〇山形 幸彦¹、小林 希¹、川口 保幸²、山﨑 正文²、宮﨑 文宏²、村岡 克紀² (1.九大、2.(株)プラズワイヤー)

キーワード：溶射プロセス、粒子パラメータ、飛行時間差法

プラズマ等により溶融させた粒子を基材に吹付けて皮膜を形成し，耐食性，耐磨耗性などを向上させる溶射技術は，橋梁の構造体や化学プラントなどで広く用いられている．溶融粒子の温度や速度等は皮膜特性を大きく左右することから，皮膜の品質管理，高機能化のために標準的な粒子パラメータ計測装置の開発が切望されている．本研究では，特にプラズマ溶射プロセスを対象とし，コンパクトで安価な計測装置の開発を行っている．