16:30 〜 16:45
[16p-4E-11] 連続UVナノインプリントにおける離型層の耐久性の検討
キーワード:UV ナノインプリント、離型層の耐久性、添加剤
連続UVナノインプリント試験後のモールド面の水滴接触角の変化追うことによって、モールドに施された離型層(Antisticking layer=ASL)の耐久性を検討した結果、レジストのシリコン基板への密着性を改善するために添加されるレベリング剤と添加剤の併用により、ASLの耐久性が大幅に改善された。
一般セッション(口頭講演)
7 ビーム応用 » 7.3 微細パターン・微細構造形成技術
2015年9月16日(水) 13:45 〜 16:45 4E (437)
座長:山口 徹(NTT),岡田 真(兵庫県立大),柳下 崇(首都大)
16:30 〜 16:45
キーワード:UV ナノインプリント、離型層の耐久性、添加剤