[11a-A14-1~13] 3.8 光計測技術・機器

[11a-A14-3] 分光光度計による半導体薄膜の屈折率の算出

宮崎 卓幸¹、〇(B)松原 良典¹、安達 定雄¹ (1.群馬大院理工)

キーワード：分光光度計、屈折率、半導体