2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.3 微細パターン・微細構造形成技術

[11a-B2-1~10] 7.3 微細パターン・微細構造形成技術

2015年3月11日(水) 09:00 〜 11:45 B2 (6B-102)

10:15 〜 10:30

[11a-B2-6] EUVコレクターミラー用の高精度反射率測定法の開発

〇井口 晴貴1 (1.兵庫県立大)

キーワード:半導体、リソグラフィー、反射率計