[11a-P4-1~18] 6.2 カーボン系薄膜

[11a-P4-7] 電子線誘起電流(EBIC)法によるダイヤモンドの欠陥位置の視覚化

〇河野 省三¹、寺地 徳之²、児玉 英之¹、澤邊 厚仁¹ (1.青山学院大理工, 2.物材機構)

キーワード：ダイヤモンド、欠陥、ショットキー接合