[11p-C1-1~17] 6.2 カーボン系薄膜

[11p-C1-15] ダイヤモンドJFETの内部電界測定に向けたNVセンターの形成

〇成木 航¹、田原 康佐¹、岩崎 孝之^{1, 3}、加藤 宙光^{2, 3}、牧野 俊晴^{2, 3}、小倉 政彦^{2, 3}、竹内 大輔^{2, 3}、山崎 聡^{2, 3}、波多野 睦子^{1, 3} (1.東工大, 2.産総研, 3.CREST)

キーワード：ダイヤモンド、NVセンター、JFET