PDF ダウンロード スケジュール 12 いいね! 0 13:30 〜 15:30 [11p-P2-7] 4H-SiCの拡張転位の電子顕微鏡解析 〇佐藤 高広1、大津 喜宏2、生頼 義久1、一色 俊之3、福井 宗利1 (1.日立ハイテクノロジーズ, 2.日立ハイテクマニファクチャ&サービス, 3.京都工芸繊維大学) キーワード:4H-SiC、電子顕微鏡、基底面転位