2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

9 応用物性 » 9.2 ナノワイヤ・ナノ粒子

[12p-A20-1~16] 9.2 ナノワイヤ・ナノ粒子

2015年3月12日(木) 14:00 〜 18:30 A20 (6A-212)

16:15 〜 16:30

▲ [12p-A20-9] Atomic Characterization of Si Nanocrystals Embedded in SiO2 Matrix by Atom Probe Tomography

〇(DC)Bin Han1, Yasuo Shimizu1, Koji Inoue1, Gabriele Seguini2, Michele Perego2, Yasuyoshi Nagai1 (1.IMR Tohoku Univ., 2.IMM-CNR)

キーワード：Atom probe tomography,Si nanocrystal