[12p-A24-1~7] 13.7 超薄膜・量子ナノ構造

[12p-A24-2] GaAs 量子井戸における正孔スピン重ね合わせ状態の直線偏光分解ポンプローブ測定法による評価

〇伊藤 哲^{1, 2}、後藤 英樹³、夫馬 宗一郎¹、市田 正夫⁴、安藤 弘明⁴ (1.静岡大電子研, 2.静岡大院工, 3.NTT物性科学基礎研, 4.甲南大理工)

キーワード：GaAs量子井戸、正孔スピン重ねあわせ状態、直線偏光分解ポンププローブ測定