[12p-A27-1~15] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[12p-A27-13] 放射線衝突に伴う不揮発メモリのソフトエラーに関するシミュレーション

〇脇村 豪¹、鎌倉 良成¹ (1.阪大院工)

キーワード：SEU、MRAM、シミュレーション