2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[12p-A27-1~15] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2015年3月12日(木) 14:00 〜 18:00 A27 (6A-202)

17:45 〜 18:00

[12p-A27-15] 放射線による局所昇温現象を考慮したソフトエラーシミュレーションの適用可能性

〇小林 大輔1, 2、伊藤 大智1、廣瀬 和之1, 2 (1.JAXA宇宙研, 2.東大院工)

キーワード:ソフトエラー、放射線、信頼性