13:30 〜 13:45
▲ [12p-D8-2] Nanoscale measurements of the work function in nanocrystalline TiN and amorphous films by multimode scanning probe microscopy and spectroscopy
キーワード:work function,scanning tunneling spectroscopy,nitride
一般セッション(口頭講演)
6 薄膜・表面 » 6.4 薄膜新材料
2015年3月12日(木) 13:15 〜 18:30 D8 (16-303)
13:30 〜 13:45
キーワード:work function,scanning tunneling spectroscopy,nitride