2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.4 薄膜新材料

[12p-D8-1~19] 6.4 薄膜新材料

2015年3月12日(木) 13:15 〜 18:30 D8 (16-303)

13:30 〜 13:45

[12p-D8-2] Nanoscale measurements of the work function in nanocrystalline TiN and amorphous films by multimode scanning probe microscopy and spectroscopy

〇Leonid Bolotov1, Takashi Matsukawa1, Koichi Fukuda1, Meishoku Masahara1, Tetsuya Tada1 (1.AIST)

キーワード:work function,scanning tunneling spectroscopy,nitride