PDF ダウンロード スケジュール 1 いいね! 0 16:00 〜 18:00 [12p-P17-2] 高空間分解能HXPESとXPSによる歪み及び組成がSiGe価電子帯に与える影響の検出 〇山堀 俊太1、笹子 知弥1、米倉 瑛介1、澤野 憲太郎1、池永 英司2、野平 博司1 (1.東京都市大工, 2.高輝度光科学研究センター) キーワード:XPS、SiGe、一軸歪み