[12p-P4-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

[12p-P4-4] MoS₂上シリコンナノシートの電子状態評価

〇重原 正明¹、大村 良輔¹、久家 隆太郎¹、田畑 博史¹、久保 理¹、片山 光浩¹ (1.阪大院工)

キーワード：シリセン、二硫化モリブデン、走査トンネル顕微鏡