2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[12p-P6-1~10] 12.2 評価・基礎物性

2015年3月12日(木) 13:30 〜 15:30 P6 (総合体育館)

13:30 〜 15:30

[12p-P6-5] バイアス印加硬X線光電子分光法による有機薄膜トランジスタの電位観察

〇(PC)渡辺 剛1、多田 圭佑2、安野 聡1、陰地 宏1、吉本 則之2、広沢 一郎1 (1.高輝度光科学研究セ, 2.岩手大工)

キーワード:X線光電子分光、有機薄膜トランジスタ