[13a-D14-1~11] 6.6 プローブ顕微鏡，12.2 評価・基礎物性のコードシェアセッション

[13a-D14-7] [講演奨励賞受賞記念講演] ポルフィリン-Tb^IIIダブルデッカー型単分子磁石のSTMによるパターニングと近藤状態の評価

〇猪瀬 朋子¹、田中 大輔¹、Liu Jie²、梶原 美珠²、米田 忠弘²、小川 琢治¹ (1.阪大院理, 2.東北大多元研)

キーワード：単分子磁石、走査型トンネル顕微鏡、ポルフィリン