[13a-D3-1~10] 12.4 有機EL・トランジスタ

[13a-D3-9] 電荷変調イメージング法による有機薄膜トランジスタの劣化機構解析

〇堤 潤也¹、松岡 悟志¹、山田 寿一¹、長谷川 達生^{1, 2} (1.産総研, 2.東大工)

キーワード：有機薄膜トランジスタ、イメージング、デバイス検査