2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[13p-A25-1~12] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2015年3月13日(金) 16:15 〜 19:15 A25 (6A-218)

16:30 〜 16:45

[13p-A25-2] Siクラスレート薄膜のNa含有量と結晶歪みのヨウ素処理依存性

〇(M1)竹下 博高1、境 健太郎2、原口 智宏1、鈴木 秀俊1、大橋 史隆3、久米 徹二3、福山 敦彦1、野々村 修一3、碇 哲雄1 (1.宮崎大工, 2.宮崎大産・地連セ, 3.岐大工)

キーワード:Siクラスレート