2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[14p-A14-1~8] 3.8 光計測技術・機器

2015年3月14日(土) 13:00 〜 15:00 A14 (6A-103)

13:45 〜 14:00

[14p-A14-4] 光学干渉計による多層膜吸収試料の層毎のスペクトル計測

〇(B)大仁田 竜馬1、塩田 達俊1 (1.埼玉大工)

キーワード：干渉計