14:15 〜 14:30 [15p-C32-3] デュアルコム分光法を用いた高精度偏光計測装置の開発 〇住原 花奈1、大久保 章2、岡野 真人1、稲場 肇2、渡邉 紳一1 (1.慶大理工、2.産総研)