16:00 〜 16:15 [14p-B1-6] Accumulation-Mode積層型ナノワイヤCMOSデバイスのチャネル不純物濃度およびゲート電極仕事関数の依存性 〇安重 英祐1、大橋 匠1、宗田 伊理也1、角嶋 邦之1、筒井 一生1、若林 整1 (1.東工大)