15:30 〜 15:45 △ [13p-C42-8] 金属探針表面局所電位変調によるGaAs表面トラップ位置の評価 〇佐藤 将来1,2、殷 翔1,2、黒田 亮太1,2、葛西 誠也1,2 (1.北大量集センター、2.北大院情報科学)